副鼻腔底挙上術におけるSchneiderian membraneの穿孔：インプラントの長期的成功の危険因子か？

Perforation of the Schneiderian membrane during sinus floor elevation: a risk factor for long-term success of dental implants?

抄録

目的:

高度に萎縮した歯槽骨稜の症例では、インプラントに最適な条件を得るために、歯槽骨稜の増大術が頻繁に行われるようになった。特に上顎では、サイナスフロア挙上術は補綴前のゴールドスタンダードであり、主に成功する術式である。Schneiderianの穿孔は、最も一般的な合併症の1つである。本研究の目的は、術中のシュナイデリアン膜穿孔がインプラントの長期的成功に影響を及ぼすかどうかを評価することである。

PURPOSE: In cases of highly atrophic alveolar ridges, augmentation procedures became a frequent procedure to gain optimal conditions for dental implants. Especially in the maxilla sinus floor elevation procedures represent the gold standard pre-prosthetic and mainly successful procedure. The perforation of the Schneiderian is one of the most common complications. The aim of this study was to evaluate whether the intraoperative perforation of the Schneiderian membrane has an impact on long-term implant success.

方法:

2005年と2006年に行われた以前の研究集団から、合計41例の穿孔を有する34例の患者を招聘し、副鼻腔底挙上術およびその後のインプラント埋入術後の長期的成功率を調べるための追跡調査を行った。

METHODS: Thirty-four patients from a former study collective of the years 2005 and 2006 with a total of 41 perforations were invited for a follow-up examination to determine the long-term success rates after sinus floor elevation and subsequent implantation.

結果:

25の穿孔を有する21人の患者が、その後再評価を受けた。232日後のインプラント周囲感染により1本のインプラントが失われ、平均追跡調査期間8.9年（±1.5年）におけるインプラントの生存率は98％であった。

RESULTS: Twenty-one patients with 25 perforations were subsequently re-evaluated. One implant was lost due to a of periimplant infection after 232 days, resulting in an implant survival rate of 98% within a mean follow-up period of 8.9 years (± 1.5 years).

結論:

長期的な成功に関して、この研究では、副鼻腔底挙上術中に穿 孔が生じた後でも、インプラントの失敗や副鼻腔炎などの その他の合併症が持続するリスクの増加は認められなかった。

CONCLUSION: Regarding the long-term success, there was no increased risk for implant failure or other persisting complications, e.g., sinusitis, after intraoperative perforation during sinus floor elevation in this study.