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日本語AIでPubMedを検索

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Front Chem.2020;8:527. doi: 10.3389/fchem.2020.00527.Epub 2020-06-23.

KBr ペレット法を用いた温度依存円偏光発光測定

Temperature-Dependent Circularly Polarized Luminescence Measurement Using KBr Pellet Method.

  • Yoshiro Kondo
  • Satoko Suzuki
  • Masayuki Watanabe
  • Akio Kaneta
  • Paolo Albertini
  • Koushi Nagamori
PMID: 32656184 PMCID: PMC7325216. DOI: 10.3389/fchem.2020.00527.

抄録

円偏光ルミネッセンス(CPL)分光法は、左円偏光と右円偏光の発光強度の差を測定するもので、キラル分子の励起状態での構造解析によく用いられています。最近では、円偏光を発する分子の解析に応用範囲が広がり、3Dディスプレイにも採用されるようになってきた。そのため、CPL分光に焦点を当てた論文が飛躍的に増加している。しかし、有機化合物のルミネセンス不斉係数()は一般的に<|0.01|であるため、CPL分光器は高感度で、キラル分子のためのアーチファクトのないスペクトルを生成する必要があります。これまで、CPL測定の主な対象は溶液試料でした。しかし、実用的なデバイス応用のためには、固体試料のCPLスペクトルを測定できることも必要である。また、電子デバイスは高温で動作することが多いため、CPL特性の熱依存性を評価することが重要です。さらに、固体試料の測定においては、異方性が大きいとアーチファクトが発生する可能性があるため、試料の異方性の程度を評価する必要がある。そこで、本研究では、固体試料の異方性を評価する方法とその高温への応用について述べる。

Circularly polarized luminescence (CPL) spectroscopy measures the difference in luminescence intensity between left- and right-circularly polarized light, and is often used to analyze the structure of chiral molecules in their excited state. Recently, it has found an increasing range of applications in the analysis of molecules that emit circularly polarized light and can be employed in 3D displays. Thus, the number of articles focusing on CPL spectroscopy has increased dramatically. However, since the luminescence dissymmetry factor () for organic compounds is generally <|0.01|, CPL spectrometers must offer high sensitivity and produce spectra that are artifact-free for chiral molecules. Until now, the principal targets of CPL measurements have been solution samples. However, for practical device applications, it is also necessary to be able to measure the CPL spectra of solid-state samples. In addition, since electronic devices often operate at high temperatures, it is important to evaluate the thermal dependence of the CPL characteristics. Moreover, in the measurement of solid-state samples, the degree of anisotropy of the samples must be evaluated, because a large degree of anisotropy can cause artifacts. Therefore, we describe methods to evaluate the degree of anisotropy of solid-state samples and their high-temperature applications.

Copyright © 2020 Kondo, Suzuki, Watanabe, Kaneta, Albertini and Nagamori.