チタンおよびジルコニア表面への連鎖球菌の付着防止に対する2％フッ化ナトリウム溶液の効果

Effects of 2% sodium fluoride solution on the prevention of streptococcal adhesion to titanium and zirconia surfaces.

抄録

連鎖球菌は，チタン（CpTi）やジルコニア（TZP）のインプラントアバットメント表面に付着する初期コロニー化細菌として，デンタルプラーク形成と関連している．連鎖球菌を標的として除去することで，効果的なインプラント周囲炎の予防が可能であると考えられる。本研究では，2％NaFのCpTiおよびTZPへの連鎖球菌の付着防止効果を評価することを目的とした．2%NaFに90分間浸漬した後，鏡面研磨したCpTiおよびTZPディスクの表面特性をXPS，EPMA，SEMを用いて評価した。連鎖球菌は，S. sanguinis，S. gordonii，S. oralisを使用した。24時間培養後，ATP-bioluminescent assayとSEMを用いて細菌の付着を評価した。XPS，EPMA，SEM分析では，2%NaF浸漬後のCpTiとTZPの表面にフッ化物が検出されたが，局在化の兆候はなく，CpTiディスクに腐食は見られなかった。CpTiとTZPでは、付着試験の結果、S. sanguinis、S. gordonii、S. oralisの付着量が、NaFなしよりもNaFありの方が有意に低かった（それぞれp=0.005、0.001、0.001）。これはSEMでも確認された。結論として，2%のNaFはCpTiおよびTZP表面への連鎖球菌の付着を減少させた。

Streptococci are associated with dental plaque formation as the early-colonizing bacteria that adhere to titanium (CpTi) and zirconia (TZP) implant abutment surfaces. Effective prevention of peri-implantitis may be possible by removing streptococci as target. This study aimed to evaluate the effects of 2% NaF on the prevention of streptococcal adhesion to CpTi and TZP. After immersion in 2% NaF for 90 min, surface characterization of mirror-polished CpTi and TZP disks were assesed using XPS, EPMA, and SEM. S. sanguinis, S. gordonii, and S. oralis were used as the streptococcal bacterial strains. After 24 h culture, bacterial adhesion was evaluated using an ATP-bioluminescent assay and SEM. In XPS, EPMA, and SEM analyses, fluoride was detected on the CpTi and TZP surfaces after 2% NaF immersion with no signs of localization, and no corrosion on the CpTi disks. Based on the adhesion assay, the adherences of S. sanguinis, S. gordonii, and S. oralis were significantly lower with NaF than without NaF in CpTi (p = 0.005, 0.001, and 0.001, respectively) and TZP (p = 0.003, 0.002, and 0.001). This was also confirmed by SEM. In conclusion, 2% NaF reduced the adhesion of streptococci to the CpTi and TZP surfaces.