完全アーチインプラントスキャンの精度、時間、撮影枚数に及ぼすスキャニングパターンの影響：臨床研究

Influence of scanning pattern on accuracy, time, and number of photograms of complete-arch implant scans: A clinical study.

抄録

目的:

スキャニングパターンが、完全アーチ型インプラント口腔内スキャンの精度、時間、および撮影枚数に及ぼす影響を測定すること。

OBJECTIVES: To measure the influence of scanning pattern on the accuracy, time, and number of photograms of complete-arch intraoral implant scans.

方法:

7本のインプラントを埋入した上顎無歯顎患者を選択した。従来の方法（7Series Scanner）で基準インプラント鋳型を得た。口腔内スキャナー（IOS）（Trios4）を使用し、完全アーチインプラントスキャンを取得するために使用したスキャンパターンに基づいて4つのグループを作成した：メーカー推奨（Occlusal-Buccal-Lingual（OBL））、ジグザグ（Zig-zag）、円周（Circumf）、および最初の咬合スキャンをロックする新しいパターン（O-Lockグループ）（n = 15）。スキャン時間とフォトグラム数を記録した。スキャニング精度の評価には、直線と角度の測定値を使用した。一元配置分散分析およびTukey検定を用いて、真度、スキャニング時間、フォトグラム数を分析した。精度の評価にはLevene検定を選択した（α=0.05）。

METHODS: A maxillary edentulous patient with 7 implants was selected. The reference implant cast was obtained using conventional methods (7Series Scanner). Four groups were created based on the scanning pattern used to acquire the complete-arch implant scans by using an intraoral scanner (IOS) (Trios4): manufacturer's recommended (Occlusal-Buccal-Lingual (OBL)), zig-zag (Zig-zag), circumferential (Circumf), and novel pattern that included locking an initial occlusal scan (O-Lock group) (n = 15). Scanning time and number of photograms were recorded. The linear and angular measurements were used to assess scanning accuracy. One-way ANOVA and Tukey tests were used to analyze trueness, scanning time, and number of photograms. The Levene test was selected to assess precision (α=0.05).

結果:

OBL、Zig-zag、Circumf、O-Lockの間で、直線不一致（P<0.01）、角度不一致（P<0.01）、スキャン時間（P<0.01）、フォトグラム数（P<0.01）に関して、統計的に有意な真偽度の差が検出された。O-Lock（63±20µm）は、Circumferential（86±16µm）およびOBL（87±19µm）群と統計的に有意な差（P<0.01）を示し、最も優れた直線真正性を示した。O-Lock群（93.5±13.4秒、1080±104フォトグラム）とCircumf群（102.9±15.1秒、1112±179フォトグラム）は、スキャン時間（P < 0.01）およびフォトグラム数（P＜0.01）は、OBL群（130.3±19.4秒、1293±161フォトグラム）およびZig-zag群（125.7±22.1秒、1316±160フォトグラム）よりも少なかった。

RESULTS: Statistically significant differences in trueness were detected among OBL, Zig-zag, Circumf, and O-Lock regarding linear discrepancy (P<0.01), angular discrepancy (P<0.01), scanning time (P<0.01), and number of photograms (P<0.01). The O-Lock (63 ± 20 µm) showed the best linear trueness with statistically significant differences (P < 0.01) with Circumferential (86 ± 16 µm) and OBL (87 ± 19 µm) groups. The O-Lock (93.5 ± 13.4 s, 1080 ± 104 photograms) and Circumf groups (102.9 ± 15.1 s, 1112 ± 179 photograms) obtained lower scanning times (P < 0.01) and number of photograms (P < 0.01) than OBL (130.3 ± 19.4 s, 1293 ± 161 photograms) and Zig-zag (125.7 ± 22.1 s, 1316 ± 160 photograms) groups.

結論:

テストしたスキャニングパターンは、テストしたIOSを使用して得られた完全アーチスキャンのスキャニング精度、時間、フォトグラム数に影響を与えた。選択したIOSを使用する場合、完全アーチインプラントスキャンを得るには、ジグザグおよびO-Lockスキャンパターンが推奨される。

CONCLUSIONS: The scanning patterns tested influenced scanning accuracy, time, and number of photograms of the complete-arch scans obtained by using the IOS tested. The zig-zag and O-Lock scanning patterns are recommended to obtain complete-arch implant scans when using the selected IOS.